Металлографический инвертированный микроскоп ADF I350M

Микроскоп ADF I350M – решение для металлографических лабораторий, ЦЗЛ и ОТК. Оптический микроскоп с базовым увеличением до 1000 крат (до 2000 крат с дополнительными окулярами 20х), с возможностью подключения цифровой камеры и выполнением методик автоматического анализа изображений в специализированном программном обеспечении для работы по различным стандартам. Микроскоп демонстрирует четкое изображение без аберраций по краям, плоское и резкое по всему полю. Позволяет упростить работу, повысить эффективность и производительность современной заводской или лаборатории, заменив старые микроскопы.

Оценка среднего размера зерна
ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073, ASTM E1382-97, Определение величины зерна сталей и сплавов, цветных металлов. Определение среднего размера зерна с полуавтоматическим и автоматическим анализом изображений.

Оценка загрязнённости стали неметаллическими включениями
ГОСТ 1778-70, ASTM E 1245-03 Металлографические методы определения неметаллических включений и пр.

Методы определения обезуглероженного слоя
ГОСТ 1763-68, ISO 3887-2003, ASTM E1077-01. Методы определения обезуглероженного слоя.

Оценка микроструктура чугуна
ГОСТ 3443-87, ISO945. Отливки из чугуна с различной формой графита. Методы определения структуры.

Определение структурной полосчатости стали
ГОСТ 5640, ASTM E 1268-01. Сталь. Металлографический метод оценки микроструктуры листов и ленты, а также по другим стандартам.

Светлое поле — изучение шлифов сталей и сплавов, жаропрчных сталей, чугунов, мартенсит, перлит, ледобурит, другие структуры сталей. Оценка бала зерна, геометрические измерения, оценка размеров кратера твердомера и многое другое.

Темное поле — освещение для визуализации структур, плохо просматриваемых в светлом поле. Контрастные изображения границ зерен, царапин, дефектов поверхности.

Простая поляризация в отраженном свете. Позволяет выявить полимеры, загрязнения
и инородные включения на поверхности материала, повышает контраст изображения
и убирает блики с ярких металлических поверхностей, выравнивая при этом экспозицию по всему полю зрения.

Дифференциальный контраст (DIC) — Изучение топографии образцов, цветовая раскраска демонстрирующая изменение высоты объекта, его топографии и рельефа. Рельефный контраст использует один слайдер для всех объективов.

Подключите камеру!

К микроскопу ADF I350 вы можете подключить любую камеру из нашего каталога. Это позволит проводить фотографирование объектов, микроструктур, проводить измерения, детальный анализ и исследования высокой четкости.